microworks X射线干涉仪Talint EDU

产品名称：microworks X射线干涉仪Talint EDU

产品型号：Talint EDU

产品介绍

Talint EDU是X射线Talbot Lau干涉仪的一种巧妙简化形式，包括所有必要的硬件，以正确设置和微调干涉仪，并应用相位步进程序，以获得三种成像模式：吸收、相位对比度和暗场对比度。

硬件的设计使得，在按照我们的说明组装（预装）套件后，莫尔条纹将很容易在您的探测器上看到。莫尔条纹图案的进一步微调可以通过使用G1和G2支架中的微米螺钉使光栅绕光轴进行角旋转，以直接的方式进行。

性能特点

l 由基板定义，基板是M6的试验板，间距为25mm

l 光栅是使用X射线LIGA技术制造的，该技术确保了高精度和高的高宽比（纵横比）

l 通过定位销固定；对称设置

l 两个光栅都可以通过调节测微螺钉绕光轴旋转

l 包含控制器

技术参数

产地：德国

长度：60厘米

宽度：15厘米

高度：20厘米

光栅开放区域

G0：15毫米

G1：70毫米

G2：70毫米

干涉仪的微调：仅调整G1和G2绕光轴的旋转角度

样品放置：简单的旋转台，可在光轴内外摆动样品

相位步进：闭环压电级。30nm分辨率

边缘能见度：通常>15%

G0和G2的占空比：0.55

G0和G2的基板：400µm石墨

G1占空比：0.5

G1基板：200µm硅

 

上海连航机电科技有限公司专注于为中国工业企业供应进口备品备件，提供过程控制技术询问，工业自动化集成设计与改造，成套设备与技术引进等工业技术应用及产品供应服务。为紧跟工业科技发展步伐，连航分别在德国和美国设立了公司和仓储，一举巩固了采购能力，扩大了由工厂直采加产品集散带来的二度成本优势。

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